2020年09月15日 08:16:26
季丰电子成功自研独创性芯片软失效SER验证系统
《科创板日报》15日讯,近日,季丰电子自研的芯片SER(Soft Error Rate,软失效率)验证系统成功为客户完成首批测试。此举标志着中国大陆企业自研创新在该SER领域取得关键突破,可以为中国晶元、芯片企业提供高时效、更稳定可靠、以及更合理成本的SER方案,成为国内首次开发成功适用于工业验证标准的方法。 (集微网)
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